德國JENOPTIK業(yè)納應(yīng)用于半導(dǎo)體汽車醫(yī)療防務(wù)航空等行業(yè)
我們的客戶主要包括半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)、汽車和汽車供應(yīng)商行業(yè)、醫(yī)療技術(shù)行業(yè)、防務(wù)與安防行業(yè)以及航空業(yè)的企業(yè)。
探針型號：
JENOPTIK 探針 284039
JENOPTIK 探針 240160
粗超度和輪廓測量，
應(yīng)用領(lǐng)域：
汽車行業(yè)：在一次測量運行中測量粗糙度和輪廓特性
汽車工業(yè)：測量工件的表面粗糙度
激光測距儀，
業(yè)納的激光距離傳感器，能夠以微秒采樣率測量和監(jiān)測 200 毫米至 3 千米的距離和位置，到毫米。無需接觸測量表面，不會產(chǎn)生磨損。
應(yīng)用領(lǐng)域
自動化：料位測量，過程控制。
工業(yè)測量： 非接觸式距離、長度和高度測量。
運輸和輸送機技術(shù)：距離和高度測量到毫米，車輛檢測
煉鋼廠和軋鋼廠：鋼坯的過程控制、檢測、位置和厚度測量。
掃描系統(tǒng)：快速距離測量
顯微照相機（業(yè)納的JENOPTIK GRYPHAX®和ProgRes®系列顯微鏡照相機可輸出低噪聲的清晰圖像。得益于所使用的先進的CMOS傳感器，JENOPTIK GRYPHAX®相機還可以以視頻速度輸出優(yōu)質(zhì)的實時圖像。）
應(yīng)用領(lǐng)域
生命科學(xué)：例如，應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、病理學(xué)、血液學(xué)、細胞學(xué)、遺傳學(xué)、生物學(xué)和化學(xué)的顯微鏡照相機
質(zhì)量控制：例如，用于顆粒分析、焊縫測試和控制制造過程的顯微鏡照相機
材料科學(xué)：用于礦物學(xué)和金相學(xué)的顯微鏡照相機——用于確定結(jié)構(gòu)，定量和定性的樣品分析和記錄
：例如，用于妥善保管證據(jù)、文件審查和法醫(yī)學(xué)的顯微鏡照相機
激光設(shè)備（使用Jenoptik提供的經(jīng)濟高效的激光設(shè)備，可以對一系列材料進行切割、焊接和打孔）
應(yīng)用領(lǐng)域
汽車工業(yè)：在儀表板安全氣囊對應(yīng)位置預(yù)設(shè)爆破點的打孔，以及塑料和金屬部件的三維激光加工（焊接和切割）。
家用技術(shù)：外殼和塑料部件的激光切割和焊接。
電子產(chǎn)品和家用產(chǎn)品行業(yè)：顯示器、閥、泵、傳感器外殼的激光焊接。
醫(yī)療技術(shù)：血糖監(jiān)測儀、導(dǎo)管、透析機的激光焊接。
業(yè)納的定制和標準物鏡
業(yè)納高性能光學(xué)涂層和濾光片
業(yè)納測量儀的優(yōu)勢
我們的所有測量系統(tǒng)都非常，并且提供重復(fù)精度。我們的測量系統(tǒng)甚至可以檢測到小的標準偏差，從而確保您能夠生產(chǎn)出始終具有高品質(zhì)的組件。測量運行基本上是自動化的，因此可防止操作員誤操作。您還可以節(jié)省時間、資金和資源。
業(yè)納測量儀采用模塊化設(shè)計，這意味著既可以輕松將其集成到現(xiàn)有的測量系統(tǒng)中，也可以擴展測量儀。您可以根據(jù)自己的需求來配置測量站。如果需要，我們可以*根據(jù)您的需求，開發(fā)并制造出適用于輪廓和粗糙度測量的測量儀。此外，您將可以受益于我們多年的經(jīng)驗和豐富的專業(yè)知識。
使用三坐標測量機進行測量之初，通常要先進行探針校正。探針校正的意義如下。
1）正確確定探針的實際位置
使用一根固定的探針，只能測量簡單形狀的工件，對于深孔、長柱或有多個測量平面的復(fù)雜工件，通常需要使用多根探針組合或單探針多轉(zhuǎn)位的可回轉(zhuǎn)測頭才能完成測量任務(wù)。但處在不同位置的探針將會給出不同的坐標值。為了獲得正確統(tǒng)一的坐標值，軟件系統(tǒng)必須能自動修正處于不同位置探針的坐標差值。而這些坐標值就是通過探針校正程序來確定，并儲存在計算機內(nèi)部數(shù)據(jù)庫時里。
2）補償測端球徑與探針撓曲變形誤差
*，有測量力就會有變形，盡管接觸式探針的測量力不是很大，但對于高精度的三坐標測量來說，測量力使得測桿撓曲變形帶來的誤差是不容忽視的。理論和實踐都表明，一根普通的細長探針的撓曲變形可帶來數(shù)十微米的誤差，撓曲變形是一個復(fù)雜的物理過程，它受測力大小和測桿長短、粗細、材質(zhì)以及接觸形式等諸多因素的影響。從力學(xué)的角度來分析和確定變形量的大小是較困難的，也是不可取的。在三坐標測量的實踐中，是通過測量一已知的實物標準（如標準球、量塊）得到帶有撓曲變形誤差的測端作用直徑。實際測量時，再和測端作用直徑對它進行補償以獲得精密測量結(jié)果。在這一補償中，也在一定程度上補償了動態(tài)探測誤差。
用于測量輪廓和粗糙度的測量儀
使用我們的測量儀，您可以在單個探測步驟或單獨的測量運行中測量組件的粗糙度和輪廓。
用于測量輪廓和粗糙度的測量儀
業(yè)納測量儀可用于測量工件的粗糙度或輪廓。我們既提供在單獨的測量運行中進行測量的型號，也提供在單個探測步驟中進行測量的型號。此外，您可以在移動式和固定式系統(tǒng)之間進行選擇，以便執(zhí)行簡單和復(fù)雜的測量任務(wù)。
典型的曲軸測量任務(wù)
接觸表面以及主軸承和銷軸承的粗糙度測量
輪廓測量：槽凸面半徑、主軸承和銷軸承
密封面的扭紋測量
典型的凸輪軸測量任務(wù)
支承點、槽和凸輪上的粗糙度測量
凸輪或振動紋的波度測量
典型的缸體測量任務(wù)
曲軸支承點的粗糙度測量
密封面的粗糙度和波度測量
缸孔的粗糙度測量
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JENGELSMANN 混料器 RRM Mini-II
JENOPTIK 粗糙度儀測量頭 T1E 適用粗糙度儀：HOMMEL TESTER T1000
JENOPTIK 環(huán)規(guī) MIN MASTER 12.015 NR:E500002-054
JENOPTIK 測環(huán) Φ12.001 ±15 NR:115102-B000
JENOPTIK 備件 10068568
JENOPTIK 校準銷 master pin Φ 12.013 NR:115102-E000
JENOPTIK 環(huán)規(guī) MIN MASTER 11.995 E500002-54
JENOPTIK 備件 10066899
JENOPTIK 備件 M0435041
JENOPTIK 校準銷 master pin Φ 11.9895 NR: 115102-F000
JENOPTIK 測頭 12.005±15 NR:115102-A000
JENOPTIK 探針 284039 TC EL20/11H L32 D3/32
